7. 进阶开发7.2 Linux开发指南7.2.2 RDK X3 驱动开发指南DDR压力测试方案本页总览DDR压力测试方案 目的 本文主要介绍DDR颗粒在高低温环境下长时间大压力运行的测试方法。 名词解释 判定术语: PASS:测试完成后,DUT所有功能、性能符合预期,无异常发生 FAIL:测试完成后,DUT功能出现损坏或功能失效,或未达到指标要求 测试项